Próxima geração do Enem com menos itens e alta confiabilidade usando CAT. SciELO Preprints, 2023. DOI: 10.1590/SciELOPreprints.5339. Disponível em: https://preprints.scielo.org/index.php/scielo/preprint/view/5339. Acesso em: 27 maio. 2026.